Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї

Автор(и)

  • A. Goriachko Department of Nanophysics and Nanoelectronics, Taras Shevchenko National University of Kyiv
  • S. P. Kulyk Department of Nanophysics and Nanoelectronics, Taras Shevchenko National University of Kyiv
  • P. V. Melnik Department of Nanophysics and Nanoelectronics, Taras Shevchenko National University of Kyiv
  • M. G. Nakhodkin Department of Nanophysics and Nanoelectronics, Taras Shevchenko National University of Kyiv

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148

Ключові слова:

silicon, surface, reconstruction, scanning tunneling microscopy

Анотація

Реконструкцiя Si(001)-c(8×8), що спостерiгається в деяких випадках, є унiкальним наноструктурованим станом поверхнi Si(001). Вiн був одержаний внаслiдок внесення домiшок Cu в концентрацiях нижче межi чутливостi електронної спектроскопiї. Детальнi СТМ зображення демонструють, що в станi c(8 × 8) поверхня не є атомарно гладкою, натомiсть складається iз основних елементiв, якi належать двом послiдовним атомним шарам. Цими елементами є епiтаксiйнi аддимери Si в першому (поверхневому) шарi та подвiйнi димернi вакансiї в другому (приповерхневому) шарi кремнiєвого субстрату.

Посилання

G. Binnig and H. Rohrer, Rev. of Mod. Phys. 59, 615 (1987). https://doi.org/10.1103/RevModPhys.59.615

G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber et al., Phys. Rev. Lett. 50, 120 (1983). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.50.120

J.V. Barth, H. Brune, G. Ertl et al., Phys. Rev. B 42, 9307 (1990). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.42.9307

I.V. Lyubinetsky, P.V. Melnik, N.G. Nakhodkin et al., Vacuum 46, 219 (1995). https://doi.org/10.1016/0042-207X(94)00047-6

S.Yu. Bulavenko, P.V. Melnik, M.G. Nakhodkin et al., Surf. Sci. 600, 1185 (2006). https://doi.org/10.1016/j.susc.2006.01.021

R.M. Tromp, R.J. Hamers, and J.E. Demuth, Phys. Rev. Lett. 55, 1303 (1985). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.55.1303

A. Goryachko, P.V. Melnik, N.G. Nakhodkin et al., Surf. Sci. 497, 47 (2002). https://doi.org/10.1016/S0039-6028(01)01623-5

P.W. Murray, R. Lindsay, F.M. Leibsle et al., Phys. Rev. B 54, 13468 (1996). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.54.13468

B.Z. Liu, M.V. Katkov, and J. Nogami, Surf. Sci. 453, 137 (2000). https://doi.org/10.1016/S0039-6028(00)00329-0

M.A.K. Zilani, H. Xu, X.S. Wang et al., J. of Phys.: Condens. Matt. 20, 395003 (2008). https://doi.org/10.1088/0953-8984/20/39/395003

L.V. Arapkina, V.A. Yuryev, K.V. Chizh et al., Nanoscale Res. Lett. 6, 218 (2011). https://doi.org/10.1186/1556-276X-6-218

K. Kato, T. Ide, S. Mitura et al., Surf. Sci. 194 L87 (1988). https://doi.org/10.1016/0039-6028(94)91238-6

Завантаження

Опубліковано

2019-01-22

Номер

Розділ

Наносистеми

Статті цього автора (цих авторів), які найбільше читають