Механізм відпалу VO дефектів в n-Si при високотемпературному імпульсному електронному опроміненні

Автор(и)

  • А.М. Крайчинський Інститут фізики НАН України
  • М.М. Красько Інститут фізики НАН України
  • А.Г. Колосюк Інститут фізики НАН України
  • Р.В. Петруня Київський національний університет імені Тараса Шевченка
  • В.Ю. Поварчук Інститут фізики НАН України
  • В.В. Войтович Інститут фізики НАН України
  • В.Б. Неймаш Інститут фізики НАН України
  • В.А. Макара Київський національний університет імені Тараса Шевченка
  • Р.М. Руденко Київський національний університет імені Тараса Шевченка

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe56.9.922

Ключові слова:

-

Анотація

Досліджено кінетику накопичення комплексу вакансія–кисень (VO) в n-Si, вирощеному методом Чохральського (Cz), при різних інтенсивностях імпульсного 1 МеВ електронного опромінення при температурах, вищих за температуру початку термічного відпалу VO (T ≥ 300 ºC). Показано, що опромінення електронами при таких температурах приводить до прискореного відпалу VO, створених цим опроміненням. Прискорений відпал VO відбувається у процесі дії імпульсу електронів. Максимальна концентрація VO, яка при цьому утворюється, зростає зі збільшенням інтенсивності опромінення і зменшується при збільшенні температури зразків при опроміненні. Запропоновано модель процесу прискореного відпалу, яка ґрунтується на тому, що при електронному опроміненні збуджуються електрони у високоенергетичну долину. При захопленні VO дефектами таких електронів дефектам передається енергія, яка суттєво зменшує енергію активації їх відпалу. Високотемпературна межа ефекту залежить від інтенсивності опромінення і зростає зі збільшенням інтенсивності.

Посилання

M.M. Kras'ko, A.M. Kraitchinskii, A.G. Kolosyuk, V.B. Neimash, V.A. Makara, R.V. Petrunya, V.Yu. Povarchuk, and V.V. Voytovych, Ukr. J. Phys. 55, 793 (2010).

J.-G. Xu, F. Lu, and H.-H. Sun, Phys. Rev. B 38, 3395 (1988).

https://doi.org/10.1103/PhysRevB.38.3395

J. Lalita, B.G. Svensson, and C. Jagadich, Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B 96, 210 (1995).

https://doi.org/10.1016/0168-583X(94)00484-6

E. Simoen, J.M. Rafi, C. Claeys, V. Neimash, A. Kraitchinskii, M. Kras'ko, V. Tishchenko, V. Voytovych, J. Versluys, and P. Clauws, Jpn. J. Appl. Phys. 42, 7184 (2003).

https://doi.org/10.1143/JJAP.42.7184

E. Simoen, C. Claeys, V. Neimash, A. Kraitchinskii, M. Kras'ko, V. Tishchenko, and V. Voytovych, Sol. St. Phenom. 95-96, 367 (2004).

https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.95-96.367

V. Neimash, M. Kras'ko, A. Kraitchinskii, V. Voytovych, V. Tishchenko, E. Simoen, J.M. Rafi, C. Claeys, J. Versluys, O. De Gryse, and P. Clauws, Phys. Stat. Sol. (a) 201, 509 (2004).

https://doi.org/10.1002/pssa.200306750

V.P. Markevich, A.R. Peaker, S.B. Lastovskii, V.E. Gusakov, I.F. Medvedeva, and L.I. Murin, Sol. St. Phenom. 156-158, 299 (2010).

https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.156-158.299

J.C. Bourgoin and J.W. Corbett, Phys. Lett. A 38, 135 (1972).

https://doi.org/10.1016/0375-9601(72)90523-3

V.S. Vavilov, N.P. Kekelidze, and L.S. Smirnov, Action of Radiation on Semiconductors (Nauka, Moscow, 1982) (in Russian).

R.A. Smith, Semiconductors, (Cambridge Univ. Press, London, 1979).

A.S. Zubrilov and S.V. Kaveshnikov, Fiz. Tekhn. Polupr. 25, 1332 (1991).

V.N. Abakumov, V.I. Perel', and I.N. Yassievich, Fiz. Tekhn. Polupr. 12, 3 (1978).

Опубліковано

2022-02-08

Як цитувати

Крайчинський, А., Красько, М., Колосюк, А., Петруня, Р., Поварчук, В., Войтович, В., Неймаш, В., Макара, В., & Руденко, Р. (2022). Механізм відпалу VO дефектів в n-Si при високотемпературному імпульсному електронному опроміненні. Український фізичний журнал, 56(9), 922. https://doi.org/10.15407/ujpe56.9.922

Номер

Розділ

Тверде тіло