Дослідження рекомбінаційних і електричних властивостей кристалів p-Si, опромінених електронами

Автор(и)

  • Т.А. Пагава Грузинський технічний університет, факультет фізики
  • Д.З. Хочолава Грузинський технічний університет, факультет фізики
  • Н.І. Майсурадзе Грузинський технічний університет, факультет фізики
  • Л.С. Чхартішвілі Грузинський технічний університет, факультет фізики

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe57.5.525

Ключові слова:

-

Анотація

Досліджено зразки p-Si, опромінені електронами з енергією 8 МеВ. За температурними залежностями параметрів під час ізохронного відпалу опромінених зразків проведено ідентифікацію різних радіаційних дефектів. На основі аналізу залежностей часу життя неосновних носіїв току τ, питомого опору ρ, концентрації p і холлівської рухомості μH від температури ізохронного відпалу Tотж виявлено особливості відпалу μH і ρ.  Визначено, які радіаційні дефекти є рекомбінаційними центрами. За кривими ізохронного відпалу, проведених при різних інтервалах часу, визначено енергії активації відпалу Eотж деяких радіаційних дефектів.

Посилання

L.S. Milevskii and V.S. Garnyk, Fiz. Tekh. Polupr. 13, 1369 (1979).

P.A. Borodovskii, A.F. Buldygin, and A.S. Tokarev, Fiz. Tekh. Polupr. 38, 1043 (2004).

https://doi.org/10.1134/1.1797476

V.S. Vavilov, S.I. Vintovkin, A.S. Lyutovich et al., Fiz. Tverd. Tela 7, 502 (1965).

V.V. Bolotov, V.A. Korotchenko, A.P. Mamontov et al., Fiz. Tekh. Polupr. 14, 2257 (1980).

Z.V. Basheleishvili, V.S. Garnyk, S.N. Gorin, and T.A. Pagava, Fiz. Tekh. Polupr. 18, 1714 (1984).

V.S. Garnyk and Z.V. Basheleishvili, Fiz. Tekh. Polupr. 24, 1485 (1990).

T.A. Pagava, Z.V. Basheleishvili, E.R. Kuteliya, and N.I. Maisuradze, Ukr. Fiz. Zh. 48, 435 (2003).

V.N. Gubskaya, P.V. Kuchinskii, and V.M. Lomako, Fiz. Tekh. Polupr. 20, 1055 (1986).

V.V. Emtsev and T.V. Mashovets, Impurities and Point Defects in Semiconductors (Radio i Svyaz, Moscow, 1981) (in Russian).

I.D. Konozenko, A.K. Semenyuk, and V.I. Hivrich, Radiation-Induced Effects in Silicon (Kyiv, Naukova Dumka, 1974) (in Russian).

Physical Processes in Irradiated Semiconductors, edited by L.S. Smirnov (Nauka, Novosibirsk, 1977) (in Russian).

N.V. Kolesnikov, S.E. Mal'khanov, and M.A. Pogarskii, Fiz. Tekh. Polupr. 12, 1836 (1978).

V.V. Luk'yanitsa, Fiz. Tekh. Polupr. 33, 921 (1999).

https://doi.org/10.1161/01.HYP.33.4.921

M.Yu. Barabanenkov, A.V. Leonov, V.N. Mordkovich, and N.M. Omel'yanskaya, Fiz. Tekh. Polupr. 33, 997 (1999).

https://doi.org/10.1134/1.1187789

T.A. Pagava, L.S. Chkhartishvili, N.I. Maisuradze, and E.R. Kuteliya, Ukr. Fiz. Zh. 52, 1162 (2007).

J. Bourgoin and M. Lannoo, Point Defects in Semiconductors, Vol. 2: Experimental Aspects (Springer, Berlin, 1983).

https://doi.org/10.1007/978-3-642-81832-5

Y.H. Lee, J.W. Corbet, and K.L. Brover, Phys. Status Solidi A 41, 637 (1977).

https://doi.org/10.1002/pssa.2210410237

L.S. Berman, N.A. Vitkovskii, V.N. Lomasov, and V.N. Tkachenko, Fiz. Tekh. Polupr. 24, 2186 (1990).

P.M. Mooney, L.J. Cheng, M. Suly, J.D. Gerson, and J.W. Corbett, Phys. Rev. B 15, 386 (1977).

https://doi.org/10.1103/PhysRevB.15.3836

C.A. Londos. Jpn. J. Appl. Phys. 27, 2089 (1988).

https://doi.org/10.1143/JJAP.27.2089

I.I Kolkovskii and V.V. Luk'yanitsa, Fiz. Tekh. Polupr. 31, 405 (1997).

https://doi.org/10.1134/1.1187183

Y.H. Lee and J.W. Corbett, Phys. Rev. B 13, 2653 (1976).

https://doi.org/10.1103/PhysRevB.13.2653

A.C. Damask and G.J. Dienes, Point Defects in Metals (Gordon and Breach, New York, 1963).

Downloads

Опубліковано

2012-05-30

Як цитувати

Пагава T., Хочолава D., Майсурадзе N., & Чхартішвілі L. (2012). Дослідження рекомбінаційних і електричних властивостей кристалів p-Si, опромінених електронами. Український фізичний журнал, 57(5), 525. https://doi.org/10.15407/ujpe57.5.525

Номер

Розділ

Тверде тіло