Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Ukr. J. Phys. [інтернет]. 22, Січень 2019 [цит. за 10, Вересень 2026];60(2):148. доступний у: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019274