Характеристика наноструктурованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії. Ukr. J. Phys. [інтернет]. 21, Грудень 2022 [цит. за 10, Вересень 2026];67(9):671. доступний у: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2021393