Константи деформаційного потенціалу Ξu та Ξd у n-Si, визначені методом тензорезистивного ефекту. Ukr. J. Phys. [інтернет]. 30, Червень 2012 [цит. за 11, Вересень 2026];57(6):636. доступний у: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2021246