«Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї». Український фізичний журнал 60, no. 2 (Січень 22, 2019): 148. дата звернення Вересень 10, 2026. https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019274.