«Механізм відпалу VO дефектів в n-Si при високотемпературному імпульсному електронному опроміненні». Український фізичний журнал 56, no. 9 (Лютий 8, 2022): 922. дата звернення Вересень 10, 2026. https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2022028.