Виготовлення тонких плівок з Mn4Si7/Si(111), CrSi2/Si(111) та CoSi2/Si(111) і оцінка їхніх оптично прямих та непрямих заборонених зон

Автор(и)

  • K.T. Dovranov Karshi State University
  • M.T. Normuradov Karshi State University
  • Kh.T. Davranov Karshi State University
  • I.R. Bekpulatov Karshi State University

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe69.1.20

Ключові слова:

iнфрачервоної Фур’є-спектроскопiя, трансмiсiйна спектроскопiя, поглинання ультрафiолетового свiтла, заборонена зона, тонкi плiвки

Анотація

Виготовлено тонкi плiвки з Mn4Si7/Si(111), CrSi2/Si(111) та CoSi2/Si(111) з неоднорiдною структурою i дослiджено їх властивостi методами спектроскопiї iнфрачервоного I ультрафiолетового свiтла. Iз застосуванням iнфрачервоної Фур’є-спектроскопiї отримано спектри поглинання, трансмiсiйнi та дифузiйного вiдбиття. Використовуючи трансмiсiйнi спектри, розраховано, що енергiї заборонених зон належать iнтервалу 0,32–1,31 еВ для плiвок на кремнiї i 0,36–1,25 еВ для плiвок на склi.

Посилання

K.C. Preetha, T.L. Remadevi. Band gap engineering in PbSe thin films from near-infrared to visible region by photochemical deposition method. J. Mater. Sci.: Mater Electron 25, 1783 (2014).

https://doi.org/10.1007/s10854-014-1799-0

M.T. Normuradov, Sh.T. Khozhiev, K.T. Dovranov, Kh.T. Davranov, M.A. Davlatov, F.K. Khollokov. Development of a technology for the production of nano-sized heterostructured films by ion-plasma deposition. Structure of materials. Ukr. J. Phys. 68 (3), (2023).

https://doi.org/10.15407/ujpe68.3.210

I.R. Bekpulatov, V.V. Loboda, M.T. Normuradov, B.D. Donaev, I.Kh. Turapov. Formation of Mn4Si7 films by magnetron sputtering and a wide range of their thermoelectric properties. St. Petersburg State Polytech. Univ. J. Physics and Mathematics 16 (2), 78 (2023).

K.F. Latypov, M.Yu. Dolomatov. Estimation of the bandgap width of organic semiconductors photoconductivity by integral parameters of autocorrelational functions. Photonics. Optoelectronic Instruments & Devices 14 (2), 184 (2020).

M.T. Normuradov, Sh.T. Khozhiev, L.B. Akhmedova, I.O. Kosimov, M.A. Davlatov, K.T. Dovranov. Peculiarities of BaTiO3 in electronic and X-Ray analysis. E3S Web Conf. 383, 04068 (2023).

https://doi.org/10.1051/e3sconf/202338304068

A. Moll, R. Viennois, M. Boehm, M. Koza, Y. Sidis. Anharmonicity and effect of the nanostructuring on the lattice dynamics of CrSi2. J. Phys. Chem. C, American Chem. Soc. 125 (27), 14786 (2021).

https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.1c02738

P. Kubelka, F. Munk. Ein beitrag zur optik der farbanstriche. Z. Techn. Phys. 12, 593 (1931).

V. Kumar, T.P. Sharma, V. Singh. Opt. Maitre 12, 115 (1999).

https://doi.org/10.1016/S0925-3467(98)00052-4

M. Wakaki, T. Shibuya, K. Kudo. Physical Properties and Data of Optical Materials (CRC Press Taylor Francis Group, 2007).

Ch. Lim, K. Park, Y. Chae, K. Kwak, M. Cho. Ultrafast continuum IR generation and its application in ir spectroscopy. Intern. J. Mol. Sci. 23, 13245 (2022).

https://doi.org/10.3390/ijms232113245

H.E. Kondakci, M. Yaman, A. Dana, M. Bayindir. Photonic bandgap infrared spectrometer. Appl. Optics 49, 3596 (2010).

https://doi.org/10.1364/AO.49.003596

Downloads

Опубліковано

2024-02-06

Як цитувати

Dovranov, K., Normuradov, M., Davranov, K., & Bekpulatov, I. (2024). Виготовлення тонких плівок з Mn4Si7/Si(111), CrSi2/Si(111) та CoSi2/Si(111) і оцінка їхніх оптично прямих та непрямих заборонених зон. Український фізичний журнал, 69(1), 20. https://doi.org/10.15407/ujpe69.1.20

Номер

Розділ

Оптика, атоми і молекули