Оптичні параметри свіжоприготованих та відпалених тонких плівок (Ga0,3In0,7)2Se3

Автор(и)

  • M. Pop Faculty of Physics, Uzhhorod National University
  • M. Kranjčec University North
  • I. Studenyak Faculty of Physics, Uzhhorod National University

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe66.10.885

Ключові слова:

тонка плiвка, спектральна елiпсометрiя, спектри пропускання, показник заломлення, енергiя псевдощiлини, енергiя Урбаха

Анотація

Напилену методом термiчного випаровування плiвку (Ga0.3In0.7)2Se3 вiдпалювали в iнертнiй атмосферi (аргон) протягом 1 год при температурах 323, 373 i 423 К. Методом спектральної елiпсометрiї дослiджено спектральнi залежностi показника заломлення та коефiцiєнта екстинкцiї свiжоприготованої та вiдпаленої плiвки (Ga0.3In0.7)2Se3. Дослiджено спектри оптичного пропускання та поглинання плiвки (Ga0.3In0.7)2Se3 залежно вiд температури вiдпалу. Показано, що край оптичного поглинання для вiдпаленої плiвки (Ga0.3In0.7)2Se3 змiщується в короткохвильову область i розширюється зi збiльшенням температури вiдпалу. Визначено параметри урбахiвського краю поглинання для свiжоприготованої та вiдпаленої плiвки (Ga0.3In0.7)2Se3. Спектральнi залежностi показника заломлення проаналiзовано в рамках моделi Уемпла–ДiДомiнiко. Виявлено нелiнiйне збiльшення ширини псевдозабороненої зони, урбахiвської енергiї та показника заломлення зi збiльшенням температури вiдпалу.

Посилання

S. Popovi'c, B. Celustka, Z. Ruzѕi'c-Toros, D. Broz. X-ray diffraction study and semiconducting properties of the system Ga2Se3-In2Se3. Phys. Stat. Sol. (a) 41, 255 (1977).

https://doi.org/10.1002/pssa.2210410131

J. Ye, T. Yoshida, Y. Nakamura, O. Nittono. Realization of giant optical rotatory power for red and infrared light

using III2VI3 compound semiconductor (GaxIn1−x)2Se3. Jap. J. Appl. Phys. 35, 4395 (1996).

https://doi.org/10.1143/JJAP.35.4395

M. Kranjсec, B. Celustka, B. Etlinger, D. Desnica. The indirect allowed optical transition in (Ga0.3In0.7)2Se3. Phys. Stat. Sol. (a) 109, 329 (1988).

https://doi.org/10.1002/pssa.2211090136

M. Kranjсec, D.I. Desnica, B. Celustka, Gy.Sh. Kovacs, I.P. Studenyak. Fundamental optical absorption edge and

compositional disorder in y1-(GaxIn1−x)2Se3 single crystals. Phys. Stat. Sol. (a) 144, 223 (1994)

https://doi.org/10.1002/pssa.2211440125

M. Kranjсec, I.P. Studenyak, Yu.M. Azhniuk. Photoluminescence and optical absorption edge in y1-(GaxIn1−x)2Se3 mixed crystals. Phys. Stat. Sol. (b) 238, 439 (2005).

https://doi.org/10.1002/pssb.200540073

J. Ye, T. Yoshida, Y. Nakamura, O. Nittono. Optical activity in the vacancy ordered III2VI3 compound semiconductor (Ga0.3In0.7)2Se3. Appl. Phys. Lett. 67, 3066 (1995).

https://doi.org/10.1063/1.114866

M. Kranjсec, I.D. Desnica, B. Celustka, A.N. Borec, Gy.Sh. Kovacs, Z.P. Hadmashy, L.M. Suslikov, I.P. Studenyak. On some crystal-optic properties of y1-(GaxIn1−x)2Se3 single crystals. Phys. Stat. Sol. (a) 153, 539 (1996).

https://doi.org/10.1002/pssa.2211530229

M. Kranjсec, I.P. Studenyak, L.M. Suslikov, Gy.Sh. Kovacs, E. Cerovec. Birefringence in y1-(GaxIn1−x)2Se3 single crystals. Opt. Mat. 25, 307 (2004).

https://doi.org/10.1016/j.optmat.2003.08.005

M. Kranjсec, I.D. Desnica, I.P. Studenyak, B. Celustka, A.N. Borec, I.M. Yurkin, Gy.Sh. Kovacs. Acousto-optic modulator with a (Ga0.4In0.6)2Se3 monocrystal as the active element. Applied Optics 36, 490 (1997).

https://doi.org/10.1364/AO.36.000490

I.P. Studenyak, M. Kranjcec, V.Yu. Izai, V.I. Studenyak. M.M. Pop, L.M. Suslikov. Ellipsometric and spectrometric

studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film. Ukr. Fiz. Zhurn. 65, 231 (2020).

https://doi.org/10.15407/ujpe65.3.231

I. Studenyak, M. Kranjсec, M. Pop, A. Solomon, L. Suslikov. Influence of X-ray irradiation on optical parameters of (Ga0.2In0.8)2Se3 films. Proc. SPIE 11456, Optical Fibers and Their Applications 2020 1145605 (2020).

https://doi.org/10.1109/NAP51477.2020.9309611

I.P. Studenyak, M.M. Pop, M. Kranjˇсec, A.M. Solomon. Optical studies of X-ray irradiated (Ga0.4In0.6)2Se3 films. Ukr. J. Phys. Opt. 21, 184 (2020).

https://doi.org/10.3116/16091833/21/4/184/2020

R. Swanepoel. Determination of the thickness and optical constants of amorphous silicon. J. Phys. E: Sci. Instrum., 16 1214 (1983). https://doi.org/10.1088/0022-3735/16/12/023

O.S. Heavens. Optical Properties of Thin Solid Films. (Dover, 1991).

D. Poelman, P.F. Smet. Methods for the determination of the optical constants of thin films from single transmission measurements: a critical review. J. Phys. D: Appl. Phys. 36, 1850 (2003).

https://doi.org/10.1088/0022-3727/36/15/316

S.H. Wemple, M.Di Domenico. behaviour of the dielectric constant in covalent and ionic materials. Phys. Rev. B 3, 1338 (1971). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.3.1338

J. Tauc and A. Menth. States in the gap. J. Non-Cryst. Solids 8-10, 569 (1972). https://doi.org/10.1016/0022-3093(72)90194-9

G.D. Cody, T. Tiedje, B. Abeles, B. Brooks, Y. Goldstein. Disorder and the optical-absorption edge of hydrogenated amorphous silicon. Phys. Rev. Lett. 47, 1480 (1981). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.47.1480

P. Studenyak, M. Kranjˇсec, M.V. Kurik. Urbach rule and disordering processes in Cu6P(S1−xSex)5Br1−y Iy superionic conductors. J. Phys. Chem. Solids 67, 807 (2006). https://doi.org/10.1016/j.jpcs.2005.10.184

Downloads

Опубліковано

2021-11-01

Як цитувати

Pop, M., Kranjčec, M., & Studenyak, I. (2021). Оптичні параметри свіжоприготованих та відпалених тонких плівок (Ga0,3In0,7)2Se3. Український фізичний журнал, 66(10), 885. https://doi.org/10.15407/ujpe66.10.885

Номер

Розділ

Напівпровідники і діелектрики

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають