Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії
DOI:
https://doi.org/10.15407/ujpe66.7.562Ключові слова:
спектроскопiчна елiпсометрiя, фталоцианiн кобальту, оптичнi константи, гаусовi осцилятори, одноосний матерiалАнотація
Плiвку фталоцианiну кобальту (CoPc) на кремнiєвiй пiдкладинцi було виготовлено за допомогою системи з ультрависоким вакуумом. Особливостi структури та оптичнi властивостi органiчного напiвпровiдника CoPc були визначенi методом спектроскопiчної елiпсометрiї в iнтервалi довжин хвиль 300–1000 нм. При обмеженнi цього iнтервалу до 900–1000 нм знайдено товщину плiвки. Поточковою пiдгонкою визначено поведiнку дiелектричної функцiї у всiй спектральнiй областi. Таким чином, оптичнi властивостi були отриманi за даними спектроскопiчної елiпсометрiї iз застосуванням математичних моделей на основi гаусових осциляторiв. Отримано хороший опис експериментальних даних з вiдносно малою середньоквадратичною похибкою. При цьому фталоцианiн кобальту розглядався як одноосний матерiал.
Посилання
Z. Ma, J. Zhao, X. Wang, J. Yu. Effect of bulk and planar heterojunctions based charge generation layers on the performance of tandem organic light-emitting diodes. Organic Electronics 30, 136 (2016).
https://doi.org/10.1016/j.orgel.2015.12.020
Po-Ching Kao, Sheng-Yuan Chu, Zong-Xian You, S.J. Liou, Chan-An Chuang. Improved efficiency of organic light-emitting diodes using CoPc buffer layer. Thin Solid Films 498, 249 (2006).
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.120
H. Soliman, A. El-Barry, N. Khosifan, M. El Nahass. Structural and electrical properties of thermally evaporated cobalt phthalocyanine (CoPc) thin fi lms. Europ. Phys. J. Appl. Phys. 37, 1 (2007).
https://doi.org/10.1051/epjap:2006135
A.B. Djuriˇsi'c, C.Y. Kwong, T.W. Lau, Z.T. Liu, H.S. Kwok, L.S.M. Lam, W.K. Chan. Spectroscopic ellipsometry of metal phthalocyanine thin films. Appl. Opt. 42, 6382 (2003).
https://doi.org/10.1364/AO.42.006382
U. Heinemeyer, A. Hinderhofer, M. Alonso, J. Oss'o, M. Garriga, M. Kytka, A. Gerlach, F. Schreiber. Uniaxial anisotropy of organic thin films determined by ellipsometry. Phys. Status Sol. (a) 205, 927 (2008).
https://doi.org/10.1002/pssa.200777765
M. Campoy-Quiles, P. Etchegoin, D. Bradley. On the optical anisotropy of conjugated polymer thin films. Phys. Rev. B (a) 72, 045209 (2005).
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.72.045209
B.P. Lyons, A.P. Monkman. A comparison of the optical constants of aligned and unaligned thin polyfluorene films. J. Appl. Phys. 96, 4735 (2004).
https://doi.org/10.1063/1.1790575
H. Fujiwara. Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications. (Wiley, 2007).
https://doi.org/10.1002/9780470060193
H.M. El-Nasser. Impact of annealing on structural and optical properties of CoPc thin films. Mater. Sci. Res. India 12, 15 (2015).
https://doi.org/10.13005/msri/120103
H.M. El-Nasser, O.D. Ali. Effect of molecular weight and uv illumination on optical constants of PMMA thin films. Iranian Polymer J. 19, 57 (2010).
H.M. El-Nasser. Morphology and spectroscopic ellipsometry of PMMA thin films. Appl. Phys. Res. 9, (2017).
https://doi.org/10.5539/apr.v9n2p5
G.E. Jellison, Jr., V.I. Merkulov, A.A. Puretzky, D.B. Geohegan, G. Eres, D.E. Lowndes, J.B. Caughman. Characterization of thin-film amorphous semiconductors using spectroscopic ellipsometry. Thin Solid Films 377, 68 (2000).
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(00)01384-5
R. Pascu, M. Dinescu. Spectroscopic ellipsometry. Romanian Reports in Physics 64, 135 (2012).
V. Batra, S. Kotru, M. Varagas, C.V. Ramana. Optical constants and band gap determination of Pb0.95La0.05
Zr0.54Ti0.46O3 thin films using spectroscopic ellipsometry and UV-visible spectroscopy. Opt. Mater. 49, 123 (2015).
https://doi.org/10.1016/j.optmat.2015.08.019
H.G. Tompkins, T. Tiwald, C. Bungay, A.E. Hooper. Measuring the thickness of organic/polymer/biological films on glass substrates using spectroscopic ellipsometry. J. Vacuum Sci. & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 24, 1605 (2006).
https://doi.org/10.1116/1.2172945
Z.T. Liu, Hoi Sing Kwok, A.B. Djurisi'c. The optical functions of metal phthalocyanines. J. Phys. D: Appl. Phys. 37, 678 (2004). https://doi.org/10.1088/0022-3727/37/5/006
J.A. Woollam. Guide to Using WVASE Spectroscopic Ellipsometry Data Acquisition and Analysis Software (2008).
O.D. Gordan, M. Friedrich, D.R.T. Zahn. The anisotropic dielectric function for copper phthalocyanine thin films.
Organic Electronics 5, 291 (2004). https://doi.org/10.1016/j.orgel.2004.10.001
J. Sindu Louis, D. Lehmann, M. Friedrich, D.R.T. Zahn. Study of dependence of molecular orientation and optical
properties of zinc phthalocyanine grown under two different pressure conditions. J. Appl. Phys. 101, 013503 (2007). https://doi.org/10.1063/1.2403845
K.M. Al-Adamat, H.M. El-Nasser. 6th International Conference on Materials Science and Nanotechnology For Next Generation, Abstract Book. (Nigde, 2019).
Q. Chen, D. Gu, F. Gan. Ellipsometric spectra of cobalt phthalocyanine fi lms. Phys. B: Condensed Matter 212, 189 (1995). https://doi.org/10.1016/0921-4526(94)00007-I
Downloads
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Ліцензійний Договір
на використання Твору
м. Київ, Україна
Відповідальний автор та співавтори (надалі іменовані як Автор(и)) статті, яку він (вони) подають до Українського фізичного журналу, (надалі іменована як Твір) з одного боку та Інститут теоретичної фізики імені М.М. Боголюбова НАН України в особі директора (надалі – Видавець) з іншого боку уклали даний Договір про таке:
1. Предмет договору.
Автор(и) надає(ють) Видавцю безоплатно невиключні права на використання Твору (наукового, технічного або іншого характеру) на умовах, визначених цим Договором.
2. Способи використання Твору.
2.1. Автор(и) надає(ють) Видавцю право на використання Твору таким чином:
2.1.1. Використовувати Твір шляхом його видання в Українському фізичному журналі (далі – Видання) мовою оригіналу та в перекладі на англійську (погоджений Автором(ами) і Видавцем примірник Твору, прийнятого до друку, є невід’ємною частиною Ліцензійного договору).
2.1.2. Переробляти, адаптувати або іншим чином змінювати Твір за погодженням з Автором(ами).
2.1.3. Перекладати Твір у випадку, коли Твір викладений іншою мовою, ніж мова, якою передбачена публікація у Виданні.
2.2. Якщо Автор(и) виявить(лять) бажання використовувати Твір в інший спосіб, як то публікувати перекладену версію Твору (окрім випадку, зазначеного в п. 2.1.3 цього Договору); розміщувати повністю або частково в мережі Інтернет; публікувати Твір в інших, у тому числі іноземних, виданнях; включати Твір як складову частину інших збірників, антологій, енциклопедій тощо, то Автор(и) мають отримати на це письмовий дозвіл від Видавця.
3. Територія використання.
Автор(и) надає(ють) Видавцю право на використання Твору способами, зазначеними у п.п. 2.1.1–2.1.3 цього Договору, на території України, а також право на розповсюдження Твору як невід’ємної складової частини Видання на території України та інших країн шляхом передплати, продажу та безоплатної передачі третій стороні.
4. Строк, на який надаються права.
4.1. Договір є чинним з дати підписання та діє протягом усього часу функціонування Видання.
5. Застереження.
5.1. Автор(и) заявляє(ють), що:
– він/вона є автором (співавтором) Твору;
– авторські права на даний Твір не передані іншій стороні;
– даний Твір не був раніше опублікований і не буде опублікований у будь-якому іншому виданні до публікації його Видавцем (див. також п. 2.2);
– Автор(и) не порушив(ли) права інтелектуальної власності інших осіб. Якщо у Творі наведені матеріали інших осіб за виключенням випадків цитування в обсязі, виправданому науковим, інформаційним або критичним характером Твору, використання таких матеріалів здійснене Автором(ами) з дотриманням норм міжнародного законодавства і законодавства України.
6. Реквізити і підписи сторін.
Видавець: Інститут теоретичної фізики імені М.М. Боголюбова НАН України.
Адреса: м. Київ, вул. Метрологічна 14-б.
Автор: Електронний підпис від імені та за погодження всіх співавторів.
.png){kind=small}
