Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО

Автор(и)

  • E. F. Venger V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics, Nat. Acad. of Sci. of Ukraine
  • L. Yu. Melnichuk Mykola Gogol State University of Nizhyn
  • A. V. Melnichuk Mykola Gogol State University of Nizhyn
  • T. V. Semikina V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics, Nat. Acad. of Sci. of Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe61.12.1053

Ключові слова:

метод порушеного повного внутрiшнього вiдбивання, провiднi нелегованi плiвки ZnO, поверхневi плазмон-фононнi поляритони

Анотація

Уперше методами IЧ-вiдбивання та модифiкованим методом порушеного повного внутрiшнього вiдбивання (ППВВ) теоретично та експериментально дослiджено прозорi провiднi нелегованi плiвки ZnO, вирощенi методом атомного пошарового осадження (АПО) в областi частот 400–1400 см−1. Отриманi iз спектрiв IЧ-вiдбивання параметри плiвки ZnO вказують на наявнiсть у спектрах ППВВ частотних “вiкон”, в яких збуджуються поверхневi фононнi та плазмон-фононнi поляритони. Теоретичнi розрахунки задовiльно узгоджуються з експериментальними результатами. Побудовано та дослiджено дисперсiйнi залежностi високо- та низькочастотної гiлок спектрiв ППВВ.

Опубліковано

2019-01-04

Як цитувати

Venger, E. F., Melnichuk, L. Y., Melnichuk, A. V., & Semikina, T. V. (2019). Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО. Український фізичний журнал, 61(12), 1053. https://doi.org/10.15407/ujpe61.12.1053

Номер

Розділ

Тверде тіло

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають