Залежнiсть вiд товщини структурних, електричних i оптичних властивостей ZnS тонких плiвок, осаджених термiчним випаровуванням

Автор(и)

  • R. Vishwakarma Advance Thin Film Laboratory, Department of Physics & Electronics, Dr. Ram Manohar Lohia Avadh University, RPS Degree College

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe62.05.0422

Ключові слова:

ZnS films, grain size, dislocation density, electrical resistivity, band gap, activation energy, electron mobility

Анотація

Тонкi плiвки ZnS осадженi методом термiчного випаровування при кiмнатнiй температурi на скляну пiдкладку, очищену ультразвуком. Товщина плiвок змiнювалася вiд 400 до 1300 нм. Структуру плiвок дослiджено за допомогою рентгеноструктурного аналiзу, растрової електронної мiкроскопiї (SEM) i рентгенiвського дисперсiйного аналiзу. Електричнi i оптичнi властивостi вимiрювалися двоточечним зондом на постiйному струмi, за ефектом Холла i за спектрами поглинання у видимому i ультрафiолетовому свiтлi. Рентгенiвськi спектри показали, що плiвки полiкристалiчнi i мають кубiчну структуру з переважаючою (111) орiєнтацiєю. Дифракцiйнi картини стають рiзкiшими з ростом товщини плiвок. За даними SEM розмiр нанозерен плiвок близько 97,89 нм. Зменшення опору свiдчить про напiвпровiдникову природу плiвок. У плiвок з товщиною понад 1200 нм максимальна рухливiсть дорiвнює 26,03 ·101 см2/В· с, мiнiмальний опiр 0,08 ·106 (Ом · см) i ширина забороненої зони 3,26 еВ. З урахуванням цих властивостей знайдено оптимальну товщину плiвок.

Downloads

Опубліковано

2018-12-15

Як цитувати

Vishwakarma, R. (2018). Залежнiсть вiд товщини структурних, електричних i оптичних властивостей ZnS тонких плiвок, осаджених термiчним випаровуванням. Український фізичний журнал, 62(5), 422. https://doi.org/10.15407/ujpe62.05.0422

Номер

Розділ

Тверде тіло