Новий Zno/Au/Zno польовий транзистор з широким затвором як сенсорна мембрана

Автор(и)

  • H. S. Rasheed Institute of Nano-Optoelectronics Research and Technology Laboratory (INOR), Universiti Sains Malaysia, School of Physics, Department of Physics, College Of Education, Al-Mustansiriya University
  • Naser M. Ahmed Institute of Nano-Optoelectronics Research and Technology Laboratory (INOR), Universiti Sains Malaysia, School of Physics
  • M. Z. Matjafri Institute of Nano-Optoelectronics Research and Technology Laboratory (INOR), Universiti Sains Malaysia, School of Physics

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe62.08.0699

Ключові слова:

EGFET, ZnO, hysteresis, multilayers, MOSFET

Анотація

ZnO/Au/ZnO (ZAuZ) багатошаровi структури рiзної товщини утворенi РЧ i ПТ-магнетронним розпиленням i потiм використанi як широкий затвор у польовому транзисторi для вимiрювання рН. Дослiджено їх структуру, оптичнi та електричнi властивостi. Товщина структур впливає на рН-чутливiсть, яка росте вiд 0,25 мA1/2/pH до 0,3 мA1/2/pH в областi насичення i вiд 50 мВ/pH до 66,66 мВ/pH на лiнiйнiй дiлянцi на вiдмiну вiд випадку з гiстерезисом, коли чутливiсть зменшується вiд 10,11 мВ до 9,87 мВ, якщо товщина зростає вiд (100/50/100) нм до (200/100/200) нм.

Downloads

Опубліковано

2018-12-13

Як цитувати

Rasheed, H. S., Ahmed, N. M., & Matjafri, M. Z. (2018). Новий Zno/Au/Zno польовий транзистор з широким затвором як сенсорна мембрана. Український фізичний журнал, 62(8), 699. https://doi.org/10.15407/ujpe62.08.0699

Номер

Розділ

Тверде тіло