Щільність дефектних станів і спектри дефектного поглинання a-Si:H

Автор(и)

  • R. G. Ikramov Namangan Engineering and Technological Institute
  • M. A. Nuriddinova Namangan Engineering and Technological Institute
  • R. M. Jalalov Namangan State University

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe64.4.315

Ключові слова:

amorphous semiconductors, distribution of electron density of states, Kubo–Greenwood formula, Davis–Mott approximation, optical electron transitions, spectral characteristics, defect absorption coefficient

Анотація

Дослiджено спектральнi характеристики коефiцiєнта дефектного поглинання аморфного гiдрогенiзованого кремнiю, якi визначаються з електронних переходiв, в яких беруть участь енергетичнi стани обiрваних зв’язкiв (дефекти). Показано, що в значеннях коефiцiєнта дефектного поглинання основну роль вiдiграють електроннi переходи мiж дефектними i нелокалiзованими станами. Також показано, що спектральна характеристика в основному визначається функцiєю розподiлу щiльностi електронних станiв, що знаходяться в валентнiй зонi або в зонi провiдностi. Визначено, що максимуми в спектральнiй характеристицi коефiцiєнта дефектного поглинання з’являються у тому випадку, коли в межах дозволених зон є яскраво вираженi максимуми.

Посилання

M. Vanecek, A. Abraham, O. Stika, J. Stuchlik, J. Kocka. Gap states density in a-Si:H deduced from subgap optical absorption measurement on Schottky solar cells. Phys. Status Solidi A 83, 617 (1984). https://doi.org/10.1002/pssa.2210830225

O.A. Golikova. Doping and pseudo-doping of amorphous hydrogenated silicon (A review). Fiz. Tekh. Poluprovodn. 25, 1517 (1991) (in Russian).

S. Yamasaki, S. Kuroda, K. Tanaka. Endor study of a-Si:H. J. Non-Cryst. Solids 59-60, 141 (1983). https://doi.org/10.1016/0022-3093(83)90542-2

A. Triska, I. Shimizu, J. Kocka, L. Tichy. Photoelectrical and optical study of p-type a-Si:H used as a photoreceptor. J. Non-Cryst. Solids 59-60, 493 (1983). https://doi.org/10.1016/0022-3093(83)90628-2

S. Yamasaki, H. Oheda, A. Matsuda, H. Okushi. Gap-state profiles of a-Si:H deduced from below-gap optical absorption. Jpn. J. Appl. Phys. 21, L539 (1982). https://doi.org/10.1143/JJAP.21.L539

O.Yu. Sologub. Determination of the absorption spectrum of amorphous silicon. In Abstracts of the 23rd International Crimean Conference on Microwave and Telecommunication Technology, 9-13 September, Sevastopol, Ukraine (2013), p. 754.

N.F. Mott and E.A. Davies, Electronic Processes in Non-Crystalline Materials (Oxford Univ. Press, 1979).

S. Zainobidinov, R.G. Ikramov, R.M. Jalalov. Urbach energy and tails of the density of states in amorphous semiconductors. Zh. Prikl. Spektrosk. 78, 243 (2011) (in Russian). https://doi.org/10.1007/s10812-011-9450-9

R.G. Ikramov. Distribution function of electron states of dangling bonds in amorphous semiconductors. Estestv. Tekhn. Nauki 6, 53 (2007) (in Russian).

The Physics of Hydrogenated Amorphous Silicon I. Structure, Preparation and Devices. Edited by J.D. Joannopoulos, G. Lukovsky (Springer, 1984).

Amorphous Semiconductors. Edited by M.H. Brodsky (Springer, 1979).

V.I. Fistul. Introduction to Semiconductor Physics (Vysshaya Shkola, 1984) (in Russian).

A. Harke. Amorphous Silicon of the Application in Integrated Optics (Technischen Univ. Hamburg, 2010).

Downloads

Опубліковано

2019-05-16

Як цитувати

Ikramov, R. G., Nuriddinova, M. A., & Jalalov, R. M. (2019). Щільність дефектних станів і спектри дефектного поглинання a-Si:H. Український фізичний журнал, 64(4), 315. https://doi.org/10.15407/ujpe64.4.315

Номер

Розділ

Напівпровідники і діелектрики