Структурнi дослiдження поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалiв In4Se3 методом дифракцiї повiльних електронiв

Автор(и)

  • P. V. Galiy Ivan Franko National University of Lviv, Faculty of Electronics, Department for Semiconductors Physics
  • Ya. B. Losovyj Nanoscale Characterization Facility, Department of Chemistry, Indiana University
  • T. M. Nenchuk Ivan Franko National University of Lviv, Faculty of Electronics, Department for Semiconductors Physics
  • I. R. Yarovets’ Ivan Franko National University of Lviv, Faculty of Electronics, Department for Semiconductors Physics

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe59.06.0612

Ключові слова:

дифракцiя повiльних електронiв, шаруватi кристали, мiжшаровi поверхнi сколювання, температура Дебая, фактор Дебая–Уоллера, анiзотропiя теплового розширення

Анотація

Методом дифракцiї повiльних електронiв на вiдбивання дослiджено стабiльнiсть структури поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалiв In4Se3 та їх “тепловi” характеристики. Показано, що поверхнi сколювання (100) In4Se3 є структурно стабiльними, i не зазнають атомної реконструкцiї у широкому температурному дiапазонi 77–295 K. За результатами експериментiв з температурної залежностi iнтенсивностi дифракцiйних рефлексiв, яка зменшується з ростом температури зразка, одержано такi тепловi характеристики поверхонь сколювання, як: температура Дебая та фактор Дебая–Уоллера. Розрахована температура Дебая поверхонь сколювання (100) In4Se3 є температурно-залежною величиною, i її значення є рiзними у трьох рiзних температурних областях для вказаного вище температурного дiапазону 77–295 K. Пiдтверджено, що температура Дебая для поверхонь сколювання (100) In4Se3 та для об’єму кристала є рiзною, а також встановлено анiзотропiю теплового розширення поверхонь сколювання за основними кристалографiчними напрямками у площинi сколу (100) In4Se3.

Посилання

K. Oura, V.G. Lifshits, A.A. Saranin, A.V. Zotov, and M. Katayama, Surface Science. An Introduction (Springer, Berlin, 2003).

D.P. Woodruff and T.A. Delchar, Modern Techniques of Surface Science (Cambridge University Press, Cambridge, 1994).

https://doi.org/10.1017/CBO9780511623172

H. Wedler and K. Heinz, Vakuum Forsch. Prax. 2, 107 (1995).

https://doi.org/10.1002/vipr.19950070205

A.R. Shulman and S.A. Fridrikhov, Secondary-Emission Methods for Investigations of Solids (Nauka, Moscow, 1977) (in Russian).

U. Schwarz, H. Hillebrecht, H.J. Deiseroth, and R. Walther, Z. Kristallogr. 210, 342 (1995).

https://doi.org/10.1524/zkri.1995.210.5.342

P.V. Galiy, A.V. Musyanovych, and Ya.M. Fiyala, Physica E 35, 88 (2006).

https://doi.org/10.1016/j.physe.2006.06.003

P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, Ya.B. Losovyj, and Ya.M. Fiyala, Funct. Mater. 15, 68 (2008).

P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, O.R. Dveriy, A. Ciszewski, P. Mazur, and S. Zuber, Physica E 41, 465 (2009).

https://doi.org/10.1016/j.physe.2008.09.011

W. Jaegermann, A. Klein, and C. Pettenkofer, in Electron Spectroscopies Applied to Low-Dimensional Structures, edited by H.I Hughes and H.P. Starnberg (Kluwer, Dordrecht, 2000), p. 317.

P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, O.Ya. Melnyk, and Y.M. Stakhira, Ukr. Fiz. Zh. 48, 256 (2003).

T.D. Henson, D. Sarid, and L.S. Bell, J. Microsc. 152, 467 (1988).

https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1988.tb01409.x

J.M. Nicholls and J.M. Debever, Surf. Sci. 189/190, 919 (1987).

https://doi.org/10.1016/S0039-6028(87)80529-0

J. Brandt, Dissert. zur Erlangung des Dokt. der Mathem.- Nat. (Kiel, 2003).

B.A. Nesterenko and V.G. Lyapin, Phase Transitions on Free Faces and Phase Interfaces in Semiconductors (Naukova Dumka, Kiev, 1990) (in Russian).

Li Ming, P. Thiry, and A. Degiovanni, Phys. Rev. B 49, 11613 (1994).

https://doi.org/10.1103/PhysRevB.49.11613

Bo Ying Han, K. Hevesi, Yu. Li-Ming, J. Vacuum Sci. Technol. A 13, 1036 (1994).

O.A. Balitskii, B. Jaeckel, and W. Jaegermann, Phys. Lett. A 372, 3303 (2008).

https://doi.org/10.1016/j.physleta.2008.01.051

P.V. Galiy, Ya.B. Losovyj, T.M. Nenchuk, and I.R. Yarovets, in Abstracts of the 6th International Workshop on Surface Physics, 1–6 September 2013, Niemcza, Poland (University of Wroclaw, Wroclaw, 2013), p. 51.

E.E. Anders, B.Ya. Sukharevskii, and L.S. Shestachenko, Fiz. Nizk. Temp. 5, 783 (1979).

Ya.B. Losovyj, M. Klinke, E. Cai, I. Rodriges, J. Zhang, L. Makinistian, A.G. Petukhov, E.A. Albanesi, P. Galiy, Ya. Fiyala, J. Liu, and P.A. Dowben, Appl. Phys. Lett. 92, 122107 (2008).

https://doi.org/10.1063/1.2894577

Ya.B. Losovyj, L. Makinistian, E. Albanesi, A.G. Petukhov, J. Liu, P.V. Galiy, O.R. Dveriy, and P.A. Dowben, J. Appl. Phys. 104, 083713 (2008).

https://doi.org/10.1063/1.3000453

I.M. Stakhira and P.G. Ksyondzyk, Ukr. Fiz. Zh. 26, 762 (1981).

B.F. Ormont, Introduction to Physical Chemistry and Crystal Chemistry of Semiconductors (Vysshaya Shkola, Moscow, 1973) (in Russian).

J.W. Niemantsverdriet, Spectroscopy in Catalysis. An Introduction (Wiley, Weinheim, 2007).

https://doi.org/10.1002/9783527611348

C.N. Borca, T. Komesu, H.-k. Jeong, P.A. Dowben, and D. Ristoiu, Appl. Phys. Lett. 77, 88 (2000).

https://doi.org/10.1063/1.126886

K. Fukutani, N. Lozova, S.M. Zuber, P.A. Dowben, P.V. Galiy, and Ya.B. Losovyj, Appl. Surf. Sci. 256, 4796 (2010).

https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2010.01.106

D.M. Bercha and K.Z. Rushchanskii, Fiz. Tverd. Tela 40, 2103 (1998).

I.M. Stakhira and P.G. Ksyondzyk, Ukr. Fiz. Zh. 27, 1186 (1982).

P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, V.P. Savchin, and Y.M. Stakhira, Ukr. Fiz. Zh. 40, 230 (1995).

P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, and J.M. Stakhira, J. Phys. D 34, 18 (2001).

https://doi.org/10.1088/0022-3727/34/1/304

Опубліковано

2018-10-23

Як цитувати

Galiy, P. V., Losovyj, Y. B., Nenchuk, T. M., & Yarovets’, I. R. (2018). Структурнi дослiдження поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалiв In4Se3 методом дифракцiї повiльних електронiв. Український фізичний журнал, 59(6), 612. https://doi.org/10.15407/ujpe59.06.0612

Номер

Розділ

Тверде тіло