Електролiтичний метод отримання наночастинок оксиду цинку

Автор(и)

  • V. R. Gaevs’kyi National University of Water Management and Nature Resources Use
  • B. D. Nechyporuk Rivne State Humanitarian University
  • N. Yu. Novoselets’kyi Rivne State Humanitarian University
  • B. P. Rudyk National University of Water Management and Nature Resources Use

DOI:

https://doi.org/10.15407/ujpe58.04.0385

Ключові слова:

ZnO, нанокристали, електролiтичний метод, XRD, розмiр частинки, оптичнi властивостi, зона

Анотація

Показана можливiсть отримання нанокристалiв оксиду цинку електролiтичним методом з використанням цинкових електродiв i розчину кухонної солi в ролi електролiту. Отриманi наночастинки дослiджувалися методом рентгеноструктурного аналiзу, який показав, що їх розмiри становлять величину порядку 30 нм. Дослiдження спектрiв пропускання електролiту пiсля проведення експерименту, показали, що ширина забороненої зони наночастинок становить величину 3,35 еВ, що узгоджується з її значенням для монокристалiв.

Посилання

<ol>
<li> S. Baruah and J. Dutta, Sci. Technol. Adv. Mater. 10, 013001 (2009).&nbsp;<a href="https://doi.org/10.1088/1468-6996/10/1/013001">https://doi.org/10.1088/1468-6996/10/1/013001</a></li>
<li> B. Mari, M. Molar, A. Mechkour et al., Microelectron. J. 35, 79 (2004).&nbsp;<a href="https://doi.org/10.1016/S0026-2692(03)00227-1">https://doi.org/10.1016/S0026-2692(03)00227-1</a></li>
<li> H. Pan, Y. Zhu, Z. Ni et al., J. Nanosci. Nanotechnol. 5, 1683 (2005).&nbsp;<a href="https://doi.org/10.1166/jnn.2005.183">https://doi.org/10.1166/jnn.2005.183</a></li>
<li> V.S. Burlakov, N.V. Tarasenko et al., Zh. Tekhn. Fiz. 81, 2 (2011).</li>
<li> D.M. Freik and B.P. Yatsyshyn, Fiz. Khim. Tverd. Tila 8, 1 (2007).</li>
<li> V.V. Filonenko, B.P. Rudyk, B.D. Nechyporuk, M.Yu. Novoselets'kyi, and Yu.P. Lavoryk, in Theory and Practice of Modern Natural Science(Kherson, 2007), p. 33 (in Ukrainian).</li>
<li> Yu.P. Lavoryk, B.D. Nechyporuk, M.Yu. Novoselets'kyi, B.P. Rudyk, V.V. Filonenko, and O.V. Parasyuk, Patent Ukraine 92078, MPK C22B19/00, C01G9/00 (2010).</li>
<li> V.I. Gavrilenko, A.M. Grekhov, D.V. Korbutyak, and V.G. Litovchenko, Optical Properties of Semiconductors: A Handbook (Naukova Dumka, Kiev, 1987) (in Russian).</li>
<li> X-Ray Diffraction Analysis. Identification of X-Ray Diffraction Patterns. Reference Guide, edited by L.I. Mirkin (Nauka, Moscow, 1981) (in Russian).</li>
<li> V.I. Lisoivan, Measurement of Unit-Cell Parameters on a Single-Crystal Spectrometer (Nauka, Novosibirsk, 1982) (in Russian).</li>
<li> L. Shen, N. Bao, K. Yanagisawa, K. Domen, A. Gupta, and C.A. Grimes, Nanotechnology 17, 5117 (2006).&nbsp;<a href="https://doi.org/10.1088/0957-4484/17/20/013">https://doi.org/10.1088/0957-4484/17/20/013</a></li>
<li> M.A. Blokhin and I.G. Shveitser, Handbook on X-Ray Spectroscopy (Nauka, Moscow, 1982) (in Russian).</li>
<li> Z. Fan and J.G. Lu, J. Nanosci. Nanotechnol. 5, 1561 (2005).&nbsp;<a href="https://doi.org/10.1166/jnn.2005.182">https://doi.org/10.1166/jnn.2005.182</a></li>
<li> G.H. Cameron and A.L. Patterson, in Symposium on Radiography and X-Ray Diffraction Methods, 1936 (American Society for Testing Materials, Philadelphia, 1937), p. 324.</li>
</ol>

Опубліковано

2018-10-06

Як цитувати

Gaevs’kyi, V. R., Nechyporuk, B. D., Novoselets’kyi, N. Y., & Rudyk, B. P. (2018). Електролiтичний метод отримання наночастинок оксиду цинку. Український фізичний журнал, 58(4), 385. https://doi.org/10.15407/ujpe58.04.0385

Номер

Розділ

Наносистеми