«Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї», Ukr. J. Phys., вип. 60, вип. 2, с. 148, Січ 2019, doi: 10.15407/ujpe60.02.0148.