«Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО», Ukr. J. Phys., вип. 61, вип. 12, с. 1053, Січ 2019, doi: 10.15407/ujpe61.12.1053.