«Характеристика наноструктурованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії», Ukr. J. Phys., вип. 67, вип. 9, с. 671, Груд 2022, doi: 10.15407/ujpe67.9.671.