Характеристика наноструктурованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії. Ukr. J. Phys. 2022, 67 (9), 671. https://doi.org/10.15407/ujpe67.9.671.