2019. Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї. Український фізичний журнал. 60, 2 (Січ 2019), 148. DOI:https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148.