Voitovych, V. V.; Rudenko, R. M.; Yuchymchuk, V. O.; Voitovych, M. V.; Krasko, M. M.; Kolosiuk, A. G.; Povarchuk, V. Y.; Khachevich, I. M.; Rudenko, M. P. Effect of Tin on Structural Transformations in the Thin-Film Silicon Suboxide Matrix. Ukr. J. Phys. 2019, 61, 980.