Kraitchinskii А.; Kras’ko М.; Kolosiuk А.; Petrunya Р.; Povarchuk В.; Voitovych В.; Neimash В.; Makara В.; Rudenko Р. Mechanism of Annealing of VO Defects in N-Si Under Pulse Electron Irradiation at High-Temperatures. Ukr. J. Phys. 2022, 56, 922.