«Дослiдження наноструктурованої поверхнi Si(001)-c(8 × 8) методом скануючої тунельної мiкроскопiї». Український фізичний журнал, вип. 60, вип. 2, Січень 2019, с. 148, https://doi.org/10.15407/ujpe60.02.0148.